2  Laborversuche

In den Laborversuchen des Moduls M 5.3 Elektronik (ELK) sollen Halbleiterbauelemente, wie Dioden, Bipolartransistoren (Bipolar Junction Transistor, BJT, engl.) und Feldeffektransistoren (Metal Oxide Semiconductor Field Effect Transistor, MOSFET, engl.) charakterisiert werden. Die Versuche sind der Versuchsreihe Active Learning von Red Pitaya entnommen.

Sie experimentieren in Gruppen mit bis zu vier Studierenden an elektronischen Bauelementen und Baugruppen, bspw.

• Dioden vom Typ 1N4001 und 1N4148,
• BJTs vom Typ 2N3904 (npn) und 2N3906 (pnp),
• MOSFETs vom Typ BS170 und BS250.

Die Charakterisierung geschieht über das VPN der Hochschule, in dem Sie an dem Ihnen zugewiesenen Laborplatz ELIE1 bis ELIE6 die Messungen über ein Red Pitaya STEMLab steuern. Die Steuerung der STEMLabs kann sowohl über das Web-Frontend mit der Oszilloskop-App geschehen, als auch über den jeweiligen SCPI Server des STEMlabs.

Als Ergebnis der Untersuchungen soll ein Technischer Bericht/Entwicklungsbericht mit quarto angefertigt werden.

Im Entwicklungsbericht beschreiben und vergleichen Sie die Messungen mit SPICE-Simulationen gestützt durch Literaturrecherche in Fachjournalen, Fachforen (z.B. auf den Webseiten der Halbleiterhersteller) und der Bibliothek (SuUB).